LCD液晶显示屏检验标准:
1. 检验条件:
1.1境温度:20℃~25℃
1.2照明条件:正常照明度(光度300~800Lux之正下方1m处)入射角度45°。
2. 检验方法:
目测(要求检验人员视力及色觉正常,双眼裸视1.0以上,无近视、远视、散光、花眼、色盲、色弱等视觉缺陷,并熟悉本检验规范)。检测时视线与LCD显示屏角度上下为90°±30°,左右为90°±45°,眼睛与LCD显示屏距离30cm,目视5sec后开始检查。
3. 检验标准:
名词解释:
LCD:液晶显示屏,每个点(dot)包含R、G、B 3个像素(pixel)
亮点:亮点就是像素管短路,当其他像素管熄灭时短路的像素管长亮.
暗点:暗点就是像素管断路不再发光
两点连续:
三点连续:
白点:(反之则为黑点)
偏色:
扭曲、
水波纹
扩散,
边界不清。
微亮点、暗点缺陷即污点发光导致小于半个点的缺陷。
白斑:LCD屏内部异物或脏污导致垂直观察略暗,而以一定入射角(上下30°,左右45°)观察呈白斑点状。
3.1   外观检查:
3.1.1    无面板变形,LCD与主机能紧密扣合,转轴无过松或过紧,开关LCD应无异响。
3.1.2    LCD显示屏表面不应有腐蚀及碎裂,涂覆层应均匀,无凝结、脱落、龟裂及磨损现象。
  有关次要缺陷定义如下表,其余类型缺陷均判为主要缺点:
LCD尺寸:15.1”/14.1"/13.3"/12.1"/10.4"/8.4"
项目  不良现象描述  缺点定义
凹痕、气泡  圆形,直径≤1.0mm,数量≤5个,间距≥50mm  Minor
 线形,长度≤3mm,宽度≤0.2mm;数量≤5个,间距≥50mm  Minor
污点、异物  圆形,直径≤1.0mm; 数量≤5个, 间距≥50mm  Minor
   Minor
污点、异物导致的白斑  圆形,直径≤0.5mm; 数量≤2个,间距≥50mm  Minor
有感刮伤  长度≤3mm,宽度≤0.2mm; 数量≤3个, 间距≥50mm  Minor
无感刮伤  长度≤20mm,宽度≤0.2mm; 数量≤3个;间距≥50mm。  Minor
3.2   电性能检查
检查要求:
   LCD显示屏测试程序依次出现如下画面:全红、全绿、全蓝、全白、全灰、全黑。
   LCD检查角度范围:上下30°,左右45°
   眼睛与LCD显示屏距离30cm
   目视5sec后开始检查
   记录请画缺陷示意草图,以便于复判
检查项目:
a.  无不显示、背光管不亮、闪烁等异常现象,无亮线、暗线。
对比度(仅适用于LCD质评机器):对比度显示精确到3%,LCD四个角落对比度与中心部分
a.  相比,不超过5%,无显示暗、无法调节亮度。(见附图:对比度)
b.  阴影:在各单色画面时,颜色应正常,无偏色;均匀,无明显阴影。
c.  白斑: 白斑或导致白斑的污点、异物尺寸规格为:圆形,直径≤0.5mm; 数量≤2个
d.  水波纹:LCD打开至90º,黑屏状态下,正常敲击键盘,不应有水波纹;LCD质评时,增加测试项目:用单个手指拨LCD左、右上角,或敲击(为控制敲击力度,建议使用用中指手指肚敲击)TouchPad两侧主机上壳,其水波纹现象在 3 秒内消失可接受。(水波纹见附图)
e.  分界线清晰,无模糊、扩散等异常现象。
f.  LCD亮度不均匀:由于安装不平或LCD表面变形导致的颜色发白的现象。各颜色下(红、蓝、绿、黑、灰、白)均出现时则计为不合格,其余按正常机器操作;在各画面下均出现则为不合格品。
g.  LCD残影:关机、STR/STD休眠时,背光灯熄灭后,画面仍停留在屏幕时造成的影像残留或扩散、收缩或条框状活动影像。停留时间≤10秒钟。
h.  鬼影:开机、画面切换、STR/STD唤醒(Mode change)时在屏幕上出现扩散、收缩或条框状活动影像。停留时间≤3秒钟。
i.  亮、暗点缺陷:在全白画面检查暗点,在全黑画面检查亮点,同时检查刮伤、凹痕等缺陷。不满足下表各项指标则其缺陷定义为主要缺点。
点缺陷标准 (LCD尺寸:15.1"/14.1"/13.3"/12.1")
亮点
(全黑画面时)  单点  红+绿+蓝≤3个  
 两点连续  红+绿+蓝≤1  
 三点及三点以上连续  红+绿+蓝=0  
 两处亮点间距  ≥15mm  
 白点  ≤0  
 亮点总数  ≤3  
 微亮点  ≤5  
暗点
(全白画面时)  单点  红+绿+蓝≤4个  
 两点连续  红+绿+蓝≤2  
 三点及三点以上连续  红+绿+蓝=0  
 两处暗点间距  ≥15mm  
 黑点  ≤0  
 暗点总数  ≤4个  
亮、暗点总数    ≤5  
注:
对于分辨率大于等于1024X768的新型号的LCD由于采用了新的制造工艺,其每个点中部添加了加固
支架,从而产生了微亮、暗点即小于半个点的缺陷等于或大于半个缺陷的点等同一个缺陷点。