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            为了避免类似的”过压“ 或者 ”过流“ 导致DUT的损坏,几乎绝大多数的电源都具备OVP和OCP,但 ... by  永不止步步 | 发表时间 2014-08-20  |3058次查看 
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            本文主要讨论了如何通过编写少量脚本和修改DUT验证环境达到这一目的。 ... by  微笑眼泪 | 发表时间 2015-08-01  |2212次查看 
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            本文介绍的新的参数测试系统能够快速、准确、可重复地提取RF参数,几乎和DC测试一样容易。最重要的是, ... by  宝啦宝呀 | 发表时间 2015-05-18  |2139次查看 
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            在FPGA设计中,glbl.v常用来定义全局复位/置位、全局三态信号和DUT的连接,并且用来为设计提 ... by  期待 | 发表时间 2015-09-24  |2073次查看 
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            首次流片成功取决于整个系统硬件和相关软件的验证,有些公司提供的快速原型生成平台具有许多调试功能,但这 ... by  倩倩 | 发表时间 2014-06-21  |1907次查看 
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            随着设计的复杂程度不断增加,要求把更多的资源放到验证上,不但要求验证能够覆盖所有的功能,还希望能够给 ... by  倩倩 | 发表时间 2014-06-12  |1815次查看 
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            自动端口延伸是一种对夹具的损耗和时延进行补偿的简单方法,可以处理单端口夹具。另一种补偿PCB或其他夹 ... by  永不止步步 | 发表时间 2014-09-28  |1652次查看 
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             在使用电源给被测件(DUT)供电时,万一出现任何异常导致供电的“过压”(OV) 或者过流“(OC) ... by  hcay | 发表时间 2014-09-24  |1405次查看 
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            DC/DC的噪声的影响三个参数主要为:占空比DUTy;开关频率Fs;上升时间Tr。其中开关频率的影响 ... by  晓晓nn | 发表时间 2016-07-06  |1185次查看 
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            由于感测器准确度与给定的功率位准高低息息相关,因此系统功耗降低的空间往往会受到限制;而电力循环(Po ... by  倩倩 | 发表时间 2014-06-16  |1136次查看 
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            在概念上,电磁兼容性(EMC)包含系统本身的电磁敏感性(EMS)以及电磁杂音发射(EME)两个部分。 ... by  露水非海 | 发表时间 2015-12-05  |1049次查看 
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            开关功能是所有电子测试仪器仪表中的一项基本关键功能。由于待测器件(DUT)的复杂性提高,通道/引脚数 ... by  长长11 | 发表时间 2020-02-13  |685次查看